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2017年第5期

43卷刊出日期 2017-06-02

SiC晶体测温技术研究

作者：张志学¹, 薛秀生¹, 阮永丰², 王振华¹, 张玉新¹, 王维¹, 叶贵明¹

DOI:10.11857/j.issn.1674-5124.2017.05.001

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SiC晶体测温技术研究

作者：于龙洋, 刘晔, 孙培钦, 张耀匀

DOI:10.11857/j.issn.1674-5124.2017.05.002

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一种基于移动像机的大型结构件形变监测方法

作者：刘炼雄, 胡昌华, 何川, 周志杰, 赵玉山

DOI:10.11857/j.issn.1674-5124.2017.05.003

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