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基于LPC2136的精确温度测量

2344    2016-01-23

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作者:谢湘南1,2, 马冰2, 田书林1

作者单位:1. 电子科技大学自动化工程学院, 四川成都 610054;
2. 中国测试技术研究院, 四川成都 610021


关键词:过采样; 求均值; ADC转换器; LPC2136芯片; 分辨率; 温度测量


摘要:

针对LPC2136片内ADC的分辨率较低,不能满足测量精度的需要,而外接高分辨率的ADC成本又较高的情况,提出了采用过采样和求均值的方法增加LPC2136片内ADC的分辨率。基于过采样技术提高模数转换器ADC转换分辨率的基本原理及电路模型,给出了一个应用过采样技术增加LPC2136片内模数转换器ADC的分辨率转换结果的实现示例及其软件实现方法,并进行了温度实测实验,结果表明测量分辨率明显提高,能满足测量精度的需要。


Accurate temperature measurement based on LPC2136

XIE Xiang-nan1,2, MA Bing2, TIAN Shu-lin1

1. School of Automation Engineering, University of Electronic Science and Technology, Chengdu 610054, China;
2. National Institute of Measurement and Testing Technology, Chengdu 610021, China

Abstract: The low resolution of ADC in the LPC2136 couldn't meet the measuring requirement and the cost would be high if the high resolution ADC is used. In order to improve this situation, one way to improve the resolution of ADC in the LPC2136 has been proposed on the base of the oversampling technology and its circuit module. According to this, an implementation sample has been showed, which increase the ADC resolution of LPC2136 just with the oversampling technology and its circuit module. And also, the way to realize its corresponding software has been given. Furthermore, the temperature measurement experiment has been done with this method and the results show the measuring resolution is obviously improved and it could meet the requirements of actual measurements.

Keywords: Oversampling; Average; ADC; LPC2136; Resolution; Temperature measurement

2008, 34(6): 44-46  收稿日期: 2008-4-7;收到修改稿日期: 2008-6-19

基金项目: 

作者简介: 谢湘南(1979-),女,湖南永兴县人,硕士研究生,专业方向为测试计量技术及仪器。

参考文献

[1] 周明德.微型计算机系统及应用[M].北京:清华大学出版社,2000.
[2] 李国. 基于过采样技术提高ADC分辨率的的研究与实现[J].计算机工程,2005,31(S1):244-245.
[3] 周立功,张华,等. 深入浅出ARM7-LPC213x/214x (上册)[M].北京:北京航空航天大学出版社,2005.
[4] 刘青兰,方志刚,邵志学.利用过采样技术提高ADC测量分辨率[J].现代电子技术,2007(12):74-76.
[5] 于光平,张昕.过采样方法与提高ADC分辨率的研究[J].沈阳工业大学学报,2006(2):137-139.
[6] 李锂,高丽.采用过采样和求均值法实现对温度的精确测量[J].新技术新工艺,2005(3):25-26.
[7] 张友伟,张洪,孙书那.根据过采样技术和求均值理论提高ADC测量分辨率[J].电子器件,2003,26(3):300-303.
[8] 王辉,李奇,倪超.基于DSP的过采样技术[J].电子技术应用,2003,29(4):44-46.
[9] 张守钧,庞彦斌.用过采样和求均值技术提高模/数转换器的分辨率[J].计算机测量与控制,2003,11(6):15-17.
[10] 高光天.ADI产品技术指南[M].北京:北京大学出版社, 1995.