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基于ADS1232的高精度测试技术

2489    2016-01-23

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作者:姜伶斌1, 刘思颂1, 党正强2

作者单位:1. 成都理工大学核技术与自动化工程学院, 四川成都 610059;
2. 中国测试技术研究院, 四川成都 610021


关键词:ADS1232转换器; 桥式传感器; 高精度; 测试; 抗干扰


摘要:

为解决传统的高精度A/D测量电路中需要在A/D前端搭建多级放大器而带来的成本及检测过程中的漂移问题,采用24位超低噪声模数转换器ADS1232,并在设计过程中使用了多种单片机抗干扰措施,设计出来的高精度测试仪器在硬件和软件上都得到了简化,该系统可以得到一个可靠的高精度的测量结果,解决了桥接传感器的前端问题。实践表明,该系统工作稳定,性能良好。


High-precision testing technology based on ADS1232

JIANG Ling-bin1, LIU Si-song1, DANG Zheng-qiang2

1. College of Nuclear Technology and Automation Engineering, Chengdu University of Technology, Chengdu 610059, China;
2. National Institute of Measurement and Testing Technology, Chengdu 610021, China

Abstract: In order to overcome the problems including high cost and drift, caused by the multi-stage amplifiers constructed in the front-end of the Analogy-to-Digital (A/D) in the traditional high precision A/D test circuit, a high-precision testing instrument used 24-bit analog-to-digital converter, a low-noise programmable gain amplifier (PGA), ADS1232 and many anti-interaction techniques of Microchip Controller Unit (MCU) were designed. It simplified both in hardware and software, and it could give reliable and high-precision measurement results. Also, it provided complete front-end for bridge sensor applications. All practical results show this system performance well and stably.

Keywords: ADS1232; Bridge sensor; High-precision; Test; Anti-interaction

2008, 34(3): 138-140,144  收稿日期: 2007-10-5;收到修改稿日期: 2007-12-17

基金项目: 

作者简介: 姜伶斌(1983-),女,上海市人,硕士研究生,专业方向为测试计量技术与仪器。

参考文献

[1] 刘光斌, 刘冬, 姚志成, 等.单片机系统实用抗干扰技术[M].北京:人民邮电出版社, 2003.
[2] 王幸之, 王雷, 等.单片机应用系统电磁干扰与抗干扰技术[M].北京:北京航空航天大学出版社, 2006.
[3] 周荷琴, 冯雷, 郭永刚.用屏蔽珠抑制高频电磁干扰[J]. 电子技术应用, 1999, 25(1):46-47.
[4] 徐亮, 阮江军, 等.去耦电容在PCB板设计中的应用[J]. 电测与仪表, 2002, 39(36):5-8.
[5] 黄贤武, 郑筱霞.传感器原理与应用[M].成都:电子科技大学出版社, 1995.
[6] 孙国银.AD73360在电量测量系统中的应用[J].中国测试技术, 2007, 33(2):70-73.
[7] 牛余朋, 成曙.单片机数字滤波算法研究[J].中国测试技术, 2005, 31(6):97-99.
[8] 杜凌云, 黄士坦.高速A/D与微处理器间的数据缓存技术[J].计算机技术与发展, 2007, 17(4):167-170.
[9] 张红俊, 张红旺, 等.电阻应变式传感器在应用中的误差补偿[J].机械管理开发, 2003(4):61-62.
[10] 王富荣.提高单片机系统可靠性的设计方法[J].电子器件, 2004, 27(4):752-754.