作者：张必超, 于鹏

作者单位：西南电子电信技术研究所, 四川成都 610041

关键词：组合数字集成电路; 可测性; 失效; 测试生成; 算法

摘要：

介绍了数字集成电路测试的基本概念,包括测试的分类,以及可控性、可观性、可测性、故障、失效和缺陷等概念;概述了测试的基本过程及测试生成概念和原理;着重阐述了组合数字集成电路的各种测试生成算法,包括异或法、步尔差分法、路径敏化法、D算法、PODEM算法和FAN算法等,这些算法是测试图形生成的基本方法,在具体应用中可灵活选用。

Research on test-generation technology of combined digital IC

ZHANG Bi-chao, YU Peng

Southwest Institute of Electronics and Telecommunication Technology, Chengdu 610041, China

Abstract: This article introduced the basic conception of combined digital IC,including classification of digital IC test,controllability,observation,testability,fault,limitation and invalidation etc.Then it summarized theory of test generation and test process of combined digital IC.It emphasized test-generating algorithms of digital IC.These algorithms included BULL differences,XOR,PATH sensitize,D,PODEM and FAN algorithm and were all basic algorithms of test generation that can be used in different applications.

Keywords: Combined digital IC; Testability; Fault; Test generation; Algorithm

2007, 33(3): 105-107  收稿日期: 2006-6-5;收到修改稿日期: 2006-8-14

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参考文献

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